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開關(guān)電源芯片的EMI

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 瀏覽：- 發(fā)布日期：2017-07-26 11:30:49【大 中 小】

在電子設(shè)備供電電源上，存在有各式各樣的外來攪擾信號。許多電子設(shè)備自身，在完成其功用一起，也發(fā)生了五花八門的EMI信號，以及人為和大自然的EMI信號。這些EMI信號，經(jīng)過傳導(dǎo)和輻射的方法，影響著該環(huán)境里運轉(zhuǎn)的電子設(shè)備。銀聯(lián)寶科技通過EMI測試設(shè)備、頻譜分析儀或測試接收機可以從不同角度解決EMI問題。每種設(shè)備用到不同的測試方法，并提供不同但互補的診斷技術(shù)。免費咨詢電話：400-778-5088

電源芯片SF6020EMI

IBM公司（美）的一項研討表明：一臺一般計算機設(shè)備每月都會遭受120屢次電源攪擾，且電源問題是造成美國45％以上的計算機設(shè)備丟掉數(shù)據(jù)和發(fā)作毛病的根本原因。其間脈沖攪擾占39.5％，振動瞬變占49％，這兩項共占88.5％，是電源受到攪擾的主要成分。電網(wǎng)中的負(fù)載切換、電網(wǎng)切換或其他各種毛病都會使電網(wǎng)發(fā)作瞬變進程發(fā)生脈沖噪聲，它一般也稱瞬變噪聲，其波形是一系列的單個脈沖或脈沖束。

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對于以上電網(wǎng)瞬變電壓的攪擾以及EMI信號的傳導(dǎo)攪擾和某些輻射傳導(dǎo)攪擾，銀聯(lián)寶科技提供EMI調(diào)試服務(wù)，提高開關(guān)電源芯片對EMI的抗擾度，因此得到非常廣泛的應(yīng)用.下降開關(guān)電源芯片對電源導(dǎo)攪擾和某些輻射傳導(dǎo)攪擾。

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